| PVB-200 晶片外观分选机 |
| 用于对石英晶体频率片（矩形片）进行外观检测（单面检测）、自动分选和数据统计。适合于所有规格SMD及49S的晶片。
对晶片外观缺陷的判定具有良好的一致性和稳定性，消除了人工挑片标准的差异。 |
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| PVB-201 晶片外观分选机 |
| 用于对石英晶片（矩形片）进行外观双面检测、自动分选和数据统计。适合于所有规格的SMD及49S的晶片。对晶片外观缺陷的判定具有良好的一致性和稳定性..... |
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| KXR-4100 晶片测角机 |
| KXR-4100是为双转角石英晶片设计的角度测量设备。采用低功率x射线管（30w）实现角度的精确测量。可根据用户指定的转角范围进行产品定制... |
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